IOL2000
間歇壽命老化測試系統(tǒng)
該系統(tǒng)適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等) 的大功率二極管、MOS管等功率器件進行功率循環(huán)試驗和恒流功率試驗。系統(tǒng)每個區(qū)位風(fēng)道獨立，充分避免不同區(qū)位試驗進程不同對試驗結(jié)果造成影響；在實驗過程中，監(jiān)測器件的電壓、結(jié)溫特性，并且提供結(jié)溫特性曲線以備后期數(shù)據(jù)分析。
